Mikroskop STEM HITACHI HD-2300A

HITACHI HD-2300A - skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy z działem typu FEG z emiterem Schotkiego łączy w sobie cechy mikroskopu SEM oraz TEM. Obraz w STEM tworzony jest poprzez skanowanie analizowanego obszaru wiązką elektronów. Umożliwia pełny opis struktury, za pomocą detektorów: SE, EDS, HAADF, TE. Dodatkowo, urządzenie wyposażone jest w kamerę umożliwiającą odwzorowanie obrazu dyfrakcyjnego. Mikroskop pracuje przy dużych wartościach napięć przyspieszających - 120kV, 200 kV. Do analizy struktury wykorzystuje się preparaty w postaci cienkiej folii.

Parametry mikroskopu:

* Działo FEG (emiter Schotkiego)

* Napięcie przyspieszające – 120kV, 200kV

* Zdolność rozdzielcza 0.204 nm (dla polikrystalicznego złota)

* Powiększenia w zależności od trybu pracy: NORMAL – 1 500 x (Low Mag) i 1 000 000 x (Normal Mag) HREM – 2 000 000 x UHREM – 5 000 000 x 

Możliwości badawcze:

1. Możliwość prowadzenia obserwacji struktury z wykorzystaniem: - detektora elektronów wtórnych ( SE) do obrazowania powierzchni próbki - detektora elektronów przechodzących (TE)- obserwacja struktury STEM w polu jasnym, - pierścieniowego detektora szerokokątowego (HAADF) - obserwacja struktury STEM w polu ciemnym (Z kontrast)

2. Obrazowanie struktury z wykorzystaniem trybu pracy: HREM (High Resolution Electron Microscopy) i UHREM (Ulra High Resolution Electron Microscopy)

3. Analiza składu chemicznego – spektrometr EDS zapewnia możliwość rejestracji promieniowania rentgenowskiego: z punktu, wzdłuż dowolnie poprowadzonej linii (linescan), z obszaru (mapping).

4. Dyfrakcja elektronów z nanoobszarów.